XCTL32 Dokumentation

Einleitung

Gegenstand des Projektes ist ein Programm, das am Institut für Physik der Humboldt-Universität an Labor-Meßplätzen zur Untersuchung von Halbleiter-Strukturen genutzt wird. Ein Meßplatz wird durch das Programm gesteuert. Dabei können Meßdaten erfaßt und ausgewertet werden.
Als physikalisches Hilfsmittel dient Röntgenstrahlung (X Ray), die an den Kristallstrukturen von Halbleitern gestreut und zur Steuerung (Control) der Messung benutzt wird. Daraus leitet sich der Name XCTL her.

Subsysteme

Das Projekt setzt sich aus verschiedenen Subsystemen (Use Cases) zusammen. Diese Subsysteme werden in den jeweiligen aufgeführten Klassen implementiert (Ergänzungen sind noch notwendig):

• Ablaufsteuerung
  • TSteering
  • TCmd
• Allgemeine Einstellungen
• Automatische Justage
• Benutzeroberfläche
  • TMain, TMainParameters
  • TBasicDialog, TModalDlg, TModelessDlg, TAboutDlg
  • TBasicWindow, TBasicMDIWindow, TMDIWindow
• Darstellung der Meßdaten
• Detektornutzung
• Diffraktometrie/Reflektometrie
• Halbwertsbreite messen
• Manuelle Justage
• Motorsteuerung
  • TMotor, TMList, TMSettings
  • Controller
  • TCalibrateDlg, TMotorParamDlg, TPosControlDlg
• Online-Hilfe
• Protokollbuch
  • TProtocol, TProtocolDiffractometry, TProtocolTopography
  • TProtocolDlg, TProtocolDiffractometryDlg, TProtocolTopographyDlg
• Topographie
  • TTopography

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