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TProtocolDiffractometryParameter.h

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00001 //****************************************************************************** 00002 //Datei : TProtocolDiffractometryParameter.h 00003 //Projekt : XCTL 00004 //Subsystem : Protokollbuch 00005 //Autor : Jens Klier <klier@informatik.hu-berlin.de> 00006 // Institut fuer Informatik, 00007 // Humboldt-Universitaet Berlin 00008 //Inhalt : TProtocolDiffractometryParameter 00009 //****************************************************************************** 00011 00012 enum TDiffractometryParameter {LfdNr= 0, Datum, Nutzer, ProbenNr, Material, 00013 Orientierung, UReflex, FehlWinkel, FehlRichtung, Scanart, 00014 Scanmethode, Strom, Spannung, Wellenlaenge, Messdatei, 00015 Scantyp, Scanachse1, SOffset1, Minimum1, Maximum1, 00016 Schrittweite1, Geschwindigkeit1, Scanachse2, SOffset2, 00017 Minimum2, Maximum2, Schrittweite2, Geschwindigkeit2, 00018 BPShorizontal, BPSvertikal, BDhorizontal, BDvertikal, 00019 AArt, AFaktor, Detektor, Messzeit, Impulse, Winkelbereich, 00020 Kanalabstand, Messkanal, Addiere, Monitor, Bemerkung, 00021 Status, Feldelemente}; 00022 00023 // LastLine

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