1 // (C) 1993, 1994 by Heiko Damerow MPG AG "Roentgenbeugung"
    2 //#############################################################################
    3 //                                                                           //
    4 // M_STEERG.H                                                                //
    5 //                                                                           //
    6 // Subsystem : Ablaufsteuerung - Kommandos                                   //
    7 // Benutung durch andere Subsysteme erforderlich: NEIN                       //
    8 // Implementation: M_STEERG.CPP                                              //
    9 //---------------------------------------------------------------------------//
   10 // letzte Bearbeitung: Thomas Kullmann, Günther Reinecker                    //
   11 // Stand:   28.07.2002                                                       //
   12 //                                                                           //
   13 //#############################################################################
   14 
   15 #ifndef __M_STEERG_H
   16 #define __M_STEERG_H
   17 
   18 #include "workflow\TChooseAxisCmd.h"
   19 #include "workflow\TSetWidthCmd.h"
   20 #include "workflow\TLoadPointCmd.h"
   21 #include "workflow\TMoveToPointCmd.h"
   22 #include "workflow\TChooseDetectorCmd.h"
   23 #include "workflow\TGotoIntensityCmd.h"
   24 #include "workflow\TGotoPeakCmd.h"
   25 #include "workflow\TShowValueCmd.h"
   26 #include "workflow\TCalculateCmd.h"
   27 #include "workflow\TScanCmd.h"
   28 #include "workflow\TAreaScanCmd.h"
   29 #include "workflow\TControlFlankCmd.h"
   30 #include "workflow\TSetupScanCmd.h"
   31 #include "workflow\TSetFileNameCmd.h"
   32 #include "workflow\TSaveDataCmd.h"
   33 
   34 
   35 /** 
   36  * @mainpage XCTL32 Dokumentation
   37  *
   38  * @section intro Einleitung
   39  *
   40  * Gegenstand des Projektes ist ein Programm, das am Institut für Physik der 
   41  * Humboldt-Universität an Labor-Meßplätzen zur Untersuchung von Halbleiter-Strukturen
   42  * genutzt wird. Ein Meßplatz wird durch das Programm gesteuert. Dabei können
   43  * Meßdaten erfaßt und ausgewertet werden.<br>Als physikalisches Hilfsmittel dient 
   44  * Röntgenstrahlung (X Ray), die an den Kristallstrukturen von Halbleitern gestreut 
   45  * und zur Steuerung (Control) der Messung benutzt wird. 
   46  * Daraus leitet sich der Name XCTL her.
   47  *
   48  * @section sub Subsysteme
   49  *
   50  * Das Projekt setzt sich aus verschiedenen Subsystemen (Use Cases) zusammen. Diese Subsysteme werden
   51  * in den jeweiligen aufgeführten Klassen implementiert (Ergänzungen sind noch notwendig):
   52  * <ul>
   53  *   <li>Ablaufsteuerung</li>
   54  *   <ul>
   55  *     <li>TSteering</li>
   56  *     <li>TCmd</li>
   57  *   </ul>
   58  *   <li>Allgemeine Einstellungen</li>
   59  *   <li>Automatische Justage</li>
   60  *   <li>Benutzeroberfläche</li>
   61  *   <ul>
   62  *     <li>TMain, TMainParameters</li>
   63  *     <li>TBasicDialog, TModalDlg, TModelessDlg, TAboutDlg</li>
   64  *     <li>TBasicWindow, TBasicMDIWindow, TMDIWindow</li>
   65  *   </ul>
   66  *   <li>Darstellung der Meßdaten</li>
   67  *   <li>Detektornutzung</li>
   68  *   <li>Diffraktometrie/Reflektometrie</li>
   69  *   <li>Halbwertsbreite messen</li>
   70  *   <li>Manuelle Justage</li>
   71  *   <li>Motorsteuerung</li>
   72  *   <ul>
   73  *     <li>TMotor, TMList, TMSettings</li>
   74  *     <li>Controller</li>
   75  *     <li>TCalibrateDlg, TMotorParamDlg, TPosControlDlg</li>
   76  *   </ul>
   77  *   <li>Online-Hilfe</li>
   78  *   <li>Protokollbuch</li>
   79  *   <ul>
   80  *     <li>TProtocol, TProtocolDiffractometry, TProtocolTopography</li>
   81  *     <li>TProtocolDlg, TProtocolDiffractometryDlg, TProtocolTopographyDlg</li>
   82  *   </ul>
   83  *   <li>Topographie</li>
   84  *   <ul>
   85  *     <li>TTopography</li>
   86  *   </ul>
   87  * </ul>
   88  * 
   89  */
   90 
   91 #endif // __M_STEERG_H
   92