Die Topographie stellt einen typischen und auch den ursprünglichen Anwendungsfall des XCTL-Programms dar. Bei der Topographie werden mit den von Kristallproben reflektierten Roentgen-Strahlen Fotoplatten belichtet, deren spätere Auswertung Aussagen über die Kristallgüte ermöglicht. Hierbei wird zunächst die reflektierte Strahlung durch eine genaue Justage der Probe auf ein Maximum gebracht. Während des späteren langwierigen Belichtungsprozesses kommt es zu wärmebedingten Verformungen der Apparatur, die vom Programm automatisch ausgeglichen werden.
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Projekt: Software-Sanierung